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美國 IK-TECHNOLOGIES 俄歇能譜儀 ELS3000 俄歇電子能譜（Auger electron spectroscopy，簡稱AES），是一種利用高能電子束為激發源的表面科學和材料科學的分析技術。
LK-TECHNOLOGIES 低能電子衍射儀(LEED)-RVL2000 的精密反向LEED低能電子衍射儀光學元件采用所有UHV結構，無需使用玻璃纖維或聚合物涂層線束。提供完整系列的型號和選件，包括低電流（nA，pA）MCP型號。
美國 IK-TECHNOLOGIES 高分辨電子能量損失譜儀在分辨率和信號水平方面表的
美國QUEST(QI2)乙烯爐管檢測LOTIS® QC-80，非接觸式測量系統 使用*非接觸式激光光學三角測量，可為管狀結構提供快速掃描和高分辨率數據。在一次掃描中，我們的專有軟件自動準確地定位尺寸質量以及表面缺陷。
美國QUEST(QI2)螺紋測量系統LOTIS ® QC-X，非接觸式測量系統，非接觸式測量系統使用包含在一臺便攜式設備中的快速、非接觸式激光掃描。
美國QUEST(QI2)非接觸式測量定子檢測系統-LOTIS® QC-40，提供價值鏈；對于制造或翻新中心的質量控制，到鉆井平臺上的檢查員，在那里做出關鍵的“通過/不通過”決策。
美國QUEST(QI2)非接觸式軟管測量系統-LOTIS® QC-20 可用于軟管檢測的最快、最準確的非接觸式測量系統。由于 QC-20 的精確、同步測量幾乎消除了操作員錯誤，該測量在測量尺寸時不會產生產品變形。
