美國Sumix MAX-QS+白光干涉儀測粗糙度 光學3D表面輪廓測量儀

美國Sumix MAX-QS+干涉儀MAX-QS+ 是一款白光相移干涉儀，用于檢測單光纖 ST、FC、SC、LC、MU、E2000™（PC 和 APC）、小尺寸多光纖 MT-RJ（PC 和 APC）、SMA 和特殊連接器。MAX-QS+ 具有便攜式設計、自動對焦、100 微米光纖高度掃描范圍和 1.1 微米分辨率。

該設備通過 USB 3.0 電纜和 12V 直流電源適配器連接到筆記本電腦或臺式計算機。

Sumix MAX-QS+ 配備行業(yè)的 MaxInspect™ 軟件，用于光纖連接器的干涉檢測。

Sumix MAX-QS+干涉儀特征：

1：高分辨率 2D 和 3D 表面輪廓

探索小至 1.1 μm 的表面細節(jié)。

2：自動對焦

將操作員的操作降至很低，只需單擊一下。

3：結合異常檢測和幾何測試

加快巡檢速度，提高工作效率。

4：快速測量

在 2 秒或更短的時間內測量單個光纖連接器。

5：顯微鏡模式

在測量之前目視檢查連接器端面。

6：行業(yè)的 MaxInspect™ 自動檢測軟件

測量曲率半徑、頂點偏移、纖維高度等。

7：超過 1000 微米的光纖高度掃描范圍

準確檢測具有較大不連續(xù)性和特殊連接器的套圈表面。

8：數(shù)據(jù)庫連接

將所有本地站點的測量數(shù)據(jù)存儲在一個地方，并輕松地將 Sumix 設備集成到您的制造系統(tǒng)中

MAX-QS+干涉測量系統(tǒng)包括：

• MAX-QS+干涉儀

• 用于設備驗證的光學平面標準

• USB 3.0 數(shù)據(jù)線

• AC適配器

• 內六角扳手

• 箱

• MaxInspect™ 軟件許可證

Sumix MAX-QS+ 規(guī)格